スリット法で測定したCR システムのプリサンプリングMTF を図に示す。高空間周…
スリット法で測定したCR システムのプリサンプリングMTF を図に示す。高空間周波数領域でMTF が上昇している原因として考えられるのはどれか。
- ⑴ 階調処理が影響した。このような持ち上がりは、生じません。
- ⑵ 有効露光量変換を行わなかった。全体の形が、変わるだけです。
- ⑶ イメージングプレートが劣化していた。劣化では、値は下がります。
- ⑷ 量子モトルによる雑音が強く影響した。雑音は、別の方法で評価します。
- ⑸ 金属スリット長軸を画素列と平行にした。折り返しの成分が、混じります。
この問題は別冊の図版（写真・図・表など）を見て答えます。図はこちらに転載していないため、下の出典のページから公式のPDFをご覧ください。解説だけでも読み取り方が分かるように書いています。
解説
正解は⑸です。スリット法では、スリットをわずかに傾けて置くことで画素の間を細かく埋めた分布を作り、画素の大きさより細かい情報を得ます。画素列と平行にしてしまうと折り返しの成分が混じり、高い空間周波数の領域で値が持ち上がってしまいます。階調処理や露光量の変換、プレートの劣化、量子モトルでは、このような持ち上がりは生じません。
出典：厚生労働省ホームページ（https://www.mhlw.go.jp/seisakunitsuite/bunya/kenkou_iryou/iryou/topics/tp210416-06.html）を加工して作成