スリット法でCR システムのプリサンプルドMTF を測定したところ、高空間周波数…
スリット法でCR システムのプリサンプルドMTF を測定したところ、高空間周波数領域でMTF が上昇した。原因で考えられるのはどれか。
- ⑴ 階調補正を行った。階調補正は入出力特性を変える処理で、MTF測定では線形化のために補正を外すか有効露光量に変換します。高周波側だけが上昇する原因にはなりません。
- ⑵ 有効露光量変換を行わなかった。変換を省くと画素値と線量の関係が非線形なままになり、MTF全体が誤った値になります。高周波域だけが系統的に上昇する現象の説明にはなりません。
- ⑶ 雑音による量子モトルが強く出た。量子モトルはノイズであり、MTF曲線をばらつかせますが、高周波側で系統的にMTFを上昇させる原因ではありません。
- ⑷ イメージングプレートが劣化していた。プレートが劣化すれば発光量が減りボケも増えるため、MTFは低下する方向に働きます。上昇する説明にはなりません。
- ⑸ 金属スリット長軸を画素列と平行にした。スリットを画素列と平行にすると細かいサンプリングができず、折り返し（エイリアシング）成分が高周波側のMTFに重なって値が上昇します。傾けて配置するのが正しい方法です。
解説
正解は⑸です。スリット法でプリサンプルドMTFを測定するときは、金属スリットを画素列に対してわずかに（1〜2度程度）傾けて配置し、各画素列で少しずつずれた位置のデータを合成して、細かくサンプリングした線像分布関数を得ます。スリット長軸を画素列と平行にしてしまうと、この細かなサンプリングができずサンプリング間隔が画素ピッチのままとなり、折り返し（エイリアシング）成分が高周波側のMTFに重なって、本来より値が上昇して見えます。
出典：厚生労働省ホームページ（https://www.mhlw.go.jp/seisakunitsuite/bunya/kenkou_iryou/iryou/topics/tp260424-06.html）を加工して作成